SURTRONIC DUO新型粗糙度儀

• SURTRONIC DUO是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra ， Rz 兩種參數(shù)。DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。

• SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。

• SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

• 攜帶方便 DUO可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

• 經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。

• 校準方便 DUO 具有自身校準標準，可預設標準值，通過 LCD顯示出來。

• 測針保護 不用時，設“ park ”位置可**保護測針。

• 人體工程學設計

• DUO新型粗糙度儀量    程：    200um                

• 行    程：    5mm

• 取樣長度：    0.8mm+/-15%        

• 參    數(shù)：    Ra ： 0.1um-40um    Ra ： 0.1um-199um

• 精    度：    Ra:0.1um  Rz:0.1um             

• 尺    寸：    125*80*38mm

• 檢測方式：     壓電式                  

• DUO新型粗糙度儀重   量：     200g