環(huán)境與耐久測(cè)試目的元器件溫升試驗(yàn)、高低溫測(cè)試

高低溫測(cè)試：
開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的器件由于溫度膨脹系數(shù)不同，在溫度變化時(shí)會(huì)對(duì)整體的性能產(chǎn)生影響，加速儀器老化，縮短使用壽命。因此需要進(jìn)行高低溫測(cè)試來(lái)測(cè)試電源內(nèi)部器件在極端使用環(huán)境下的耐久性。試驗(yàn)項(xiàng)目包括高/低溫操作測(cè)試，高/低溫存儲(chǔ)測(cè)試、低溫啟動(dòng)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試。

元器件溫升試驗(yàn)：
開(kāi)關(guān)電源在運(yùn)行時(shí)，內(nèi)部元件的溫度將會(huì)升高，如果溫度超過(guò)規(guī)定值，將造成內(nèi)部元件的壽命縮短或損壞，因此需要對(duì)元器件進(jìn)行溫升試驗(yàn)，測(cè)試開(kāi)關(guān)電源在規(guī)定的操作環(huán)境、電壓和負(fù)載條件下時(shí)，元器件的溫升狀況。
測(cè)試條件：將被測(cè)電源放置在規(guī)定的環(huán)境溫度中，依線(xiàn)路情況先確定溫升比較高的元件，將熱電偶粘貼在元件表面。設(shè)置好規(guī)定的輸入電壓、頻率、輸出負(fù)載后開(kāi)機(jī)，并記錄輸入功率和輸出電壓。同時(shí)用記錄儀記錄元件的溫升曲線(xiàn)直至溫升穩(wěn)定。

環(huán)境與耐久測(cè)試目的
一款高品質(zhì)的電源除了要有高性能、高能效外，還必須具有高可靠性。而其內(nèi)部使用的功率器件，會(huì)根據(jù)使用的環(huán)境與情況的不同而受到影響，從而影響到整個(gè)產(chǎn)品的電氣性能以及使用壽命。因此在開(kāi)關(guān)電源的研發(fā)及生產(chǎn)過(guò)程中，必須進(jìn)行環(huán)境與耐久測(cè)試，測(cè)試電源在不同使用環(huán)境下的性能，以確保產(chǎn)品具有足夠的穩(wěn)定性、可靠性及使用壽命。

環(huán)境與耐久測(cè)試項(xiàng)目及內(nèi)容
? 開(kāi)關(guān)循環(huán)測(cè)試
? 元件溫升測(cè)試
? 高/ 低溫操作測(cè)試
? 高/ 低溫存儲(chǔ)測(cè)試
? 低溫啟動(dòng)測(cè)試
? 溫度循環(huán)測(cè)試/ 冷熱沖擊測(cè)試

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